Наименование документа
ДСТУ EN 62373:2022 Тест на стойкость к температуре сдвига для металлооксидных, полупроводниковых полевых транзисторов (MOSFET) (EN 62373:2006, IDT; IEC 62373:2006, IDT)
Дата начала действия
31.12.2023
Дата принятия
28.12.2022
Статус
Действующий
Утверждающий документ
Приказ от 28.12.2022 № 285 О пакетном принятии европейских нормативных документов CEN/CENELEC
Вид документа
ДСТУ (Государственный Стандарт Украины)
Шифр документа
62373:2022
Разработчик
ГП «Украинский научно-исследовательский и учебный центр проблем стандартизации, сертификации и качества» (ГП «УкрНИУЦ»)
СКАЧАТЬ БЕСПЛАТНО